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SXJS-C变频抗干扰介损测试仪

更新时间:2020-07-08

简要描述:

SXJS-C变频抗干扰介损测试仪,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器的外壳接地屏蔽,另外使用了光导数据,浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,故测量结果稳定、精确、可靠。

厂商性质:经销商浏览量:293

产品概述:

SXJS-C变频抗干扰介损测试仪,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器的外壳接地屏蔽,另外使用了光导数据,浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,故测量结果稳定、精确、可靠。

工作原理:

SXJS-C变频抗干扰介损测试仪参数在交流电压作用下,电介质要消耗部分电能,这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时,电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ,Ψ的余角δ称为介质损耗角,δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx),如图1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成,被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等,再由单片机运用数字化实时采集方法,通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。

产品参数:

1. 高压输出:
0.5~10kV,每一档增加500V,共有十档,容 量:1000VA
2.准 确 度:
tgδ: ±(读数*1.0%+0.08%)
Cx: ±(读数*1.5%+5PF)
3.分 辨 率: tgδ:0.01% Cx:1pF
4.测量范围: 0.1% < tgδ < 50%
3PF< Cx < 60000PF
10KV时,Cx≤30000PF
5KV时,Cx≤60000PF
5.电 源: AC 220V士10% 50士1Hz 
6.电源谐波适应能力:≤3%
7.使用条件:-15℃-50℃ 相对湿度<80% 
8.外型尺寸: 460(L)×335(W)×340(H)
9.重 量: 30 kg

使用方法:

启动测量后高压设定值送到变频电源,变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值,测量电路将实测高压送到变频电源,微调低压,实现准确高压输出。根据正/反接线设置,测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程,测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰,分离出信号基波,对标准电流和试品电流进行矢量运算,幅值计算电容量,角差计算tgδ。反复进行多次测量,经过排序选择一个中间结果。测量结束,测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。

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